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物理系 宋春燕
发布时间:

2024-09-27

浏览量:

159

文章来源:

yl6809永利官网



姓名:宋春燕                    性别:

职称:教授                    办公室:理化301

邮箱:chunyansong@shzu.edu.c /博士生导师硕士生导师

学历学位:博士                研究方向:宽禁带半导体、光电子学


个人简介

工作简历宋春燕(Dr.SongChunyan):博士,教授,硕士生导师,yl6809永利官网yl6809永利官网工作。2019年获北京大学凝聚态物理博士学位。

科研领域:围绕宽禁带半导体材料,针对氮化镓基半导体材料及相关光电器件中的缺陷物理、理论计算模拟、材料物性分析和外延生长等开展研究工作,主持国家自然科学青年基金 1 项、参与负责完成国家自然科学新疆联合基金 1 项、作为负责和主要参与yl6809永利官网高层次人才项目 3 项,参与国家自然科学地区基金 1 项。

研究成果:Journal of Alloys andCompounds 物理重要期刊上发表国内外高水平论文20余篇,其中第一或通讯作者(含共同)发表10余篇;授权发明专利1参编教材2部。培养硕士研究生3人。

一、教学情况

教授课程:

研究生课程:物理学前沿专题

本科生课程:电磁学半导体物理固体物理学大学物理普物实验II

教研情况:

基于OBE理念的《固体物理学》教育教学改革研究yl6809永利官网,2020-2022,主持

课程思政建设课程-固体物理学yl6809永利官网2021-2022,主持

yl6809永利官网本科生教学研究优秀论文,2022

二、科学研究

国家自然科学基金-青年基金(62104162:缓冲层碳杂质影响氮化镓外延薄膜可靠性的机理研究主持,(2022.01-2024.12

国家自然科学基金-新疆联合基金(U1803116:石蜡/蛭石复合定形相变储能材料的稳定性与强化传热机制研究乙方主持,2019.01-2021.12

yl6809永利官网高层次人才项目RCZK201922:缓冲层碳浓度影响GaN基功率电子器件可靠性的机理研究主持,(2020.6-2023.6

三、主要代表性论文(*为通讯作者)

[1] Hongyu Ji, Chunyan Song*, Hui Liao*, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang, Boyang Huang, Jiaming Qi.Exploration of the electronic structure and thermoelectric properties of the carbon-doped bulk GaN materials by first-principles calculations[J]. Next Materials, 2024, 4:100204.

[2] Boyang Huang, Hui Liao*, Chunyan Song*, Weihua Chen, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang, Hongyu Ji, Jiaming Qi, Tingting Song. Electronic structure, optical properties, and thermoelectric properties of Mg-doped GaN materials[J]. Solid State Communications, 2024, 390:115624.

[3] Hongyu Ji, Chunyan Song*, Hui Liao*, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang and Weicheng Cao. Theoretical investigation of electronic structure and thermoelectric properties of CN point defects in GaN[J]. Journal of Alloys and Compounds, 2023, 969:172358

[4] Hui Liao, Chunyan Song, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang, Hongyu Ji and Boyang Huang. First principles study on the thermoelectric properties of GaN nanowires with CN point defects[J]. Results in Physics, 2023, 52:106896.

[5] Weicheng Cao, Chunyan Song*, Hui Liao*, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang and Hongyu Ji. Numerical simulation analysis of carbon defects in the buffer on vertical leakage and breakdown of GaN on silicon epitaxial layers[J]. Scientific reports, 2023, 13:14820.

[6] Chunyan Song, Hui Liao, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang, Weicheng Cao. The role of point defects related with carbon impurity on the kink of log J-V in GaN-on-Si epitaxial layers[J]. Nanotechnology, 2022, 33:495702.

[7] ChunyanSong, XuelinYang*, DingWang, PanfengJi, ShanWu, Yue Xu, MaojunWang, BoShen*. The effect of kink and vertical leakage mechanisms in GaN-on-Si epitaxial layers[J]. Semicond.Sci.Technol, 2020, 35:085015.

[8] Chunyan Song, Xuelin Yang*, Panfeng Ji, Jun Tang, Shan Wu, Yue Xu, Ali Imran, Maojun Wang, Zhijian Yang, Fujun Xu, Xinqiang Wang, Weikun Ge, Bo Shen*. Impact of Silicon Substrate with Low Resistivity on Vertical Leakage Current InAlGaN/GaN HEMTs[J]. Appl. Sci., 2019, 9:2373.

[9] Anqi Hu,Chunyan Song#, Xuelin Yang*, Xiaoying He, Bo Shen*, Xia Guo*. Role of hole trapping in the unintentionally doped GaN layer in suppressing thetwo-dimensional electron gas degradation in AlGaN/GaN heterostructures on Si[J]. Nanotechnology, 2019, 30:314002.(共同一作)

[10] Chunyan Song, Xuelin Yang* , Panfeng Ji, Jun Tang, Anqi Hu, Yuxia Feng, Wei Lin, Weikun Ge, Zhijian Yang, Fujun Xu, Bo Shen*. Role of electroninjection on vertical leakage in GaN-on-Si epitaxial layers[J]. Superlattices andMicrostructures, 2019, 128:199-203.

四、著作及专利情况

国家发明专利

杨学林,沈波,宋春燕,纪攀峰,唐军,齐胜利,潘尧波.一种降低氮化镓基外延层中漏电的结构及其制备方法. 专利号:CN201810768268.8, 授权公告日:2022.5.6

五、获奖及荣誉

指导大学生实验物理大赛国赛荣获国家级二等奖1项,三等奖1项,优秀奖1

指导大学生物理学术竞赛荣获省级特等奖2

指导大学生实验物理大赛荣获省级一等奖1项,二等奖4项,三等奖1项,优秀奖1

指导全国三维数字化创新设计大赛荣获省级一等奖1

指导大学生学术竞赛及物理实验大赛荣获校级优秀教师奖7

指导SRP结题荣获校级优秀项目2

指导本科生毕业论文荣获校级优秀1

荣获校级课程思政优秀案例1

六、学术交流情况

2023第二十四届全国半导体物理学术会议(SPC2023),“CN点缺陷影响氮化镓的电子结构和热电性质的理论研究”

2021年“厚实基础、响应时代”yl6809永利官网青年教师“星火”论坛,“硅上氮化镓基功率电子器件的漏电特性和缺陷态俘获效应研究”

2019年第三届新疆理论物理前沿学术研讨会,“SiGaN基异质结及其器件中空穴俘获过程对沟道电流的影响”

2019年新疆、甘肃物理学会联合学术年会,“电子注入对 Si GaN 垂直漏电和缺陷 态俘获效应的影响”


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物理系 宋春燕
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2024-09-27

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姓名:宋春燕                    性别:

职称:教授                    办公室:理化301

邮箱:chunyansong@shzu.edu.c /博士生导师硕士生导师

学历学位:博士                研究方向:宽禁带半导体、光电子学


个人简介

工作简历宋春燕(Dr.SongChunyan):博士,教授,硕士生导师,yl6809永利官网yl6809永利官网工作。2019年获北京大学凝聚态物理博士学位。

科研领域:围绕宽禁带半导体材料,针对氮化镓基半导体材料及相关光电器件中的缺陷物理、理论计算模拟、材料物性分析和外延生长等开展研究工作,主持国家自然科学青年基金 1 项、参与负责完成国家自然科学新疆联合基金 1 项、作为负责和主要参与yl6809永利官网高层次人才项目 3 项,参与国家自然科学地区基金 1 项。

研究成果:Journal of Alloys andCompounds 物理重要期刊上发表国内外高水平论文20余篇,其中第一或通讯作者(含共同)发表10余篇;授权发明专利1参编教材2部。培养硕士研究生3人。

一、教学情况

教授课程:

研究生课程:物理学前沿专题

本科生课程:电磁学半导体物理固体物理学大学物理普物实验II

教研情况:

基于OBE理念的《固体物理学》教育教学改革研究yl6809永利官网,2020-2022,主持

课程思政建设课程-固体物理学yl6809永利官网2021-2022,主持

yl6809永利官网本科生教学研究优秀论文,2022

二、科学研究

国家自然科学基金-青年基金(62104162:缓冲层碳杂质影响氮化镓外延薄膜可靠性的机理研究主持,(2022.01-2024.12

国家自然科学基金-新疆联合基金(U1803116:石蜡/蛭石复合定形相变储能材料的稳定性与强化传热机制研究乙方主持,2019.01-2021.12

yl6809永利官网高层次人才项目RCZK201922:缓冲层碳浓度影响GaN基功率电子器件可靠性的机理研究主持,(2020.6-2023.6

三、主要代表性论文(*为通讯作者)

[1] Hongyu Ji, Chunyan Song*, Hui Liao*, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang, Boyang Huang, Jiaming Qi.Exploration of the electronic structure and thermoelectric properties of the carbon-doped bulk GaN materials by first-principles calculations[J]. Next Materials, 2024, 4:100204.

[2] Boyang Huang, Hui Liao*, Chunyan Song*, Weihua Chen, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang, Hongyu Ji, Jiaming Qi, Tingting Song. Electronic structure, optical properties, and thermoelectric properties of Mg-doped GaN materials[J]. Solid State Communications, 2024, 390:115624.

[3] Hongyu Ji, Chunyan Song*, Hui Liao*, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang and Weicheng Cao. Theoretical investigation of electronic structure and thermoelectric properties of CN point defects in GaN[J]. Journal of Alloys and Compounds, 2023, 969:172358

[4] Hui Liao, Chunyan Song, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang, Hongyu Ji and Boyang Huang. First principles study on the thermoelectric properties of GaN nanowires with CN point defects[J]. Results in Physics, 2023, 52:106896.

[5] Weicheng Cao, Chunyan Song*, Hui Liao*, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang and Hongyu Ji. Numerical simulation analysis of carbon defects in the buffer on vertical leakage and breakdown of GaN on silicon epitaxial layers[J]. Scientific reports, 2023, 13:14820.

[6] Chunyan Song, Hui Liao, Ningxuan Yang, Rui Wang, Guanghui Tang, Weicheng Cao. The role of point defects related with carbon impurity on the kink of log J-V in GaN-on-Si epitaxial layers[J]. Nanotechnology, 2022, 33:495702.

[7] ChunyanSong, XuelinYang*, DingWang, PanfengJi, ShanWu, Yue Xu, MaojunWang, BoShen*. The effect of kink and vertical leakage mechanisms in GaN-on-Si epitaxial layers[J]. Semicond.Sci.Technol, 2020, 35:085015.

[8] Chunyan Song, Xuelin Yang*, Panfeng Ji, Jun Tang, Shan Wu, Yue Xu, Ali Imran, Maojun Wang, Zhijian Yang, Fujun Xu, Xinqiang Wang, Weikun Ge, Bo Shen*. Impact of Silicon Substrate with Low Resistivity on Vertical Leakage Current InAlGaN/GaN HEMTs[J]. Appl. Sci., 2019, 9:2373.

[9] Anqi Hu,Chunyan Song#, Xuelin Yang*, Xiaoying He, Bo Shen*, Xia Guo*. Role of hole trapping in the unintentionally doped GaN layer in suppressing thetwo-dimensional electron gas degradation in AlGaN/GaN heterostructures on Si[J]. Nanotechnology, 2019, 30:314002.(共同一作)

[10] Chunyan Song, Xuelin Yang* , Panfeng Ji, Jun Tang, Anqi Hu, Yuxia Feng, Wei Lin, Weikun Ge, Zhijian Yang, Fujun Xu, Bo Shen*. Role of electroninjection on vertical leakage in GaN-on-Si epitaxial layers[J]. Superlattices andMicrostructures, 2019, 128:199-203.

四、著作及专利情况

国家发明专利

杨学林,沈波,宋春燕,纪攀峰,唐军,齐胜利,潘尧波.一种降低氮化镓基外延层中漏电的结构及其制备方法. 专利号:CN201810768268.8, 授权公告日:2022.5.6

五、获奖及荣誉

指导大学生实验物理大赛国赛荣获国家级二等奖1项,三等奖1项,优秀奖1

指导大学生物理学术竞赛荣获省级特等奖2

指导大学生实验物理大赛荣获省级一等奖1项,二等奖4项,三等奖1项,优秀奖1

指导全国三维数字化创新设计大赛荣获省级一等奖1

指导大学生学术竞赛及物理实验大赛荣获校级优秀教师奖7

指导SRP结题荣获校级优秀项目2

指导本科生毕业论文荣获校级优秀1

荣获校级课程思政优秀案例1

六、学术交流情况

2023第二十四届全国半导体物理学术会议(SPC2023),“CN点缺陷影响氮化镓的电子结构和热电性质的理论研究”

2021年“厚实基础、响应时代”yl6809永利官网青年教师“星火”论坛,“硅上氮化镓基功率电子器件的漏电特性和缺陷态俘获效应研究”

2019年第三届新疆理论物理前沿学术研讨会,“SiGaN基异质结及其器件中空穴俘获过程对沟道电流的影响”

2019年新疆、甘肃物理学会联合学术年会,“电子注入对 Si GaN 垂直漏电和缺陷 态俘获效应的影响”


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